Электрические и магнитные свойства ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на SiO2/Si(001)


2018

Балашев В. В., К.С. Ермаков, Л.А. Чеботкевич, В.В. Коробцов

Статьи в журналах

Письма в журнал технической физики

Россия, Санкт-Петербург, Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук

том 44, вып. 13

стр.88-95.

0.808

0.823

0320-0116

Ультратонкие поликристаллические пленки Fe были выращены на окисленной поверхности подложки Si(001). Проведено измерение удельного сопротивления и магнитного гистерезиса пленок Fe в диапазоне толщин от 2.5 до 10 nm. Из анализа полученных данных сделан вывод о том, что при толщине ~6 nm происходит переход к структурно-сплошной пленке. Обнаружено, что данный переход сопровождается появлением преимущественной (111) ориентации у зерен Fe в этой пленке

10.1134/S1063785018070040

http://journals.ioffe.ru/articles/46332

PJTF-44N13-2018-88.pdf